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铭记相遇,成都再会 | 2025中国(成都)国际精密光学技术与应用大会完美落幕!

发布时间: 2025-04-24 10:47:18来源:CIOE中国光博会

2025年4月23日,由中国科协新技术开发中心、中国国际光电博览会组委会、深圳市光学光电子行业协会联合主办的“2025 中国(成都)国际精密光学技术与应用大会”,在成都环球中心天堂洲际大饭店圆满落幕。此次大会为期两天,今日会议主题围绕 “半导体量测技术”“光学薄膜高精度制作技术”两大核心议题展开,集结高校权威学者、行业领军人物及创新企业代表,深度探讨光学领域的技术创新与产业升级路径。


大会吸引来自微纳元器件厂商、超精密加工设备企业、半导体材料及加工设备厂商、光学检测设备厂商、镜头模组企业、光学镀膜材料与设备企业、以及光学应用终端企业等领域的行业精英参会,共襄光学技术发展盛举。大会精心打造的展览展示区,80余家企业携品牌产品集中亮相,全方位呈现精密光学产业链上下游的最新技术成果与产品创新。


专题三:半导体量测技术

上午的会议出席嘉宾包括香港应科院物联网感测与人工智能首席总监 蔡振荣博士、香港应用科技研究院有限公司副总监 蒋金波博士以及知常光电、武汉精测、麦克奥迪、中科卓尔、慧普光等知名企业高层集中探讨光学缺陷检测技术在半导体晶圆与芯片领域的应用、玻璃基检测量测技术助力FOPLP板级封测、智能影像传感技术与半导体检测等话题。


专题四:光学薄膜高精度制作技术

下午场会议出席嘉宾包括精密光学工程技术研究所创始人 王占山教授、天津津航技术物理研究所 季一勤研究员、成都技致光电科技有限公司,电子科技大学 李斌成教授以及布勒莱宝、Cutting Edge Coatings、博顿光电、原速科技等光学薄膜领域知名企业高层,探讨人工智能赋能光学薄膜技术研究、全国产大口径离子束设备在微纳光学中的应用、高功率激光薄膜吸收损耗测试技术及仪器分析等话题,促进光学薄膜高精度制作技术、真空镀膜设备等领域的协同创新。


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会议现场&特设展示区


专题三:半导体量测技术
 嘉宾分享 



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主持人开场
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蔡振荣 博士

香港应科院物联网感测与人工智能 首席总监


蔡博在开场致辞中指出,半导体制造工艺精密复杂,量检设备作为生产流程中的关键环节。今年 3 月,由深圳国资委投资的企业集中推出近 30 台生产检测设备,这一举措在国内半导体量检设备领域引发关注,有望推动产业生态圈加速变革。


蔡博进一步强调:“当前,在中美贸易冲突持续的大背景下,中国半导体产业发展面临的核心挑战,并非单纯的生产能力问题,而是如何实现生产设备、量检设备以及材料的全面国产化。这既是当前行业发展的关键瓶颈,也是中国半导体产业亟需突破的核心命题。”

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光学缺陷检测技术在半导体晶圆与芯片领域的应用
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陈坚

合肥知常光电科技有限公司 CTO 


陈总在报告中提到检测侧重缺陷识别,量测侧重参数测量,均贯穿半导体制造全流程。光学方法占检测设备的 3/4,优势是精度高、速度快,适合规模化生产,但受光波衍射极限限制,分辨率在先进制程中面临挑战。其典型应用场景涵盖无图形晶圆(激光散射成像)、图形化晶圆(明 / 暗场成像)、掩模版(深紫外激光)、碳化硅(多技术结合)等检测,以及光刻机光学元件检测。

陈总表示:“当前国内 266 激光器近年进展显著,至少 4-5 家企业可提供 3w 左右皮秒级锁模技术产品,且已进入产线验证,基本摆脱对美依赖,虽长期稳定性和寿命仍有提升空间,但国产化替代趋势明确。”

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玻璃基检测量测技术助力FOPLP板级封测
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谭绪斌

武汉精测电子集团股份有限公司 资深产品经理


谭总在报告中介绍了 FOPLP 板级封测发展趋势,指出玻璃基板凭借制造成本低、产出率高等优势较有机、硅基材料更具综合竞争力。当前玻璃材料需适配工艺并向轻薄化发展,加工难点集中在通孔质量(如表面光滑度、真圆度)与金属填充(如饱满度、气密性)。同时介绍了精测公司针对裸玻璃表面缺陷、通孔 1D/2D/3D 量测(如厚度、Taper 角、孔径)及双面线路高分辨率检测等推出的量测方案,助力实现高良率、低成本封装。


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超景深显微镜、电镜以及半导体集成产品在半导体市场的应用
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张建锋

麦克奥迪实业集团有限公司 总监


张总在报告中介绍了麦克奥迪超景深显微镜实现从 2D 到 3D 检测突破,可多角度变焦,适用于新能源汽车电池毛刺检测等场景,还引入台式扫描电镜解决传统光学分辨率问题。其半导体检测产品涵盖光学检测、全自动光学检测、晶圆处理及测量系统,部分产品如 MPS 系列利用专利技术,技术领先。


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掩模版基板精密测试技术与设备研究
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杨伟

成都中科卓尔智能科技集团有限公司 董事长


杨总在报告中重点分享应力检测仪与缺陷检测仪的研发及应用。团队依托产学研合作,联合国内供应链打通超精密抛光、缺陷检测、镀膜等核心工艺。报告中指出表面缺陷检测是良率提升的难点,14 纳米节点进口设备成本超亿元,团队正研发多模式缺陷检测样机,以提升检出率并降低对进口依赖,未来将通过技术融合与产业链协作推进国产化进程。


杨总提到:“掩模版基板量产中,表面缺陷检测是良率提升的最大难点,随着制程的提升对检测设备的分辨率与缺陷分析能力要求更高。”

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鸿鹄显微自动对焦成像系统助力半导体缺陷检测
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向猜

广东慧普光学科技有限公司 销售总监


向总在报告中介绍到慧普光学鸿鹄系统通过五大观察方式(明场/暗场/简易偏光/DIC /光致发光)和模块化组合,满足半导体多场景检测需求,暗场成像在部分缺陷检测中优于明场。公司自研对焦系统集成算法至激光传感器芯片,并开发高精度物镜切换器,提升检测效率与稳定性。


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智能影像传感技术与半导体检测
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蒋金波

香港应用科技研究院有限公司 副总监


蒋博在报告中主要探讨了两个方面,首先是中段半导体检测,后摩尔时代先进封装成为趋势,需检测晶圆锡球、硅通孔(TSV)及重布线层缺陷,3D 封装检测融合 2D/3D 技术,白光干涉仪、条纹结构光投影、镭射三角法、光谱共聚焦等技术各有优劣,其中光谱共聚焦在速度与精度间平衡较好,可实现亚微米级测量,适用于晶圆特征、玻璃基板缺陷检测。

其次是第三代半导体检测,以碳化硅、氮化镓为代表,因材料宽禁带特性需高精度检测设备(如紫外激光亮暗场、差分干涉显微镜),但国内设备市场占比不足 5%,需突破光源和技术瓶颈。


专题四:光学薄膜高精度制作技术
 嘉宾分享 


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主持人开场
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王占山 

精密光学工程技术研究所 创始人


王老师在开场致辞中提到:“光学行业作为当下经济形势变化依旧发展的比较好的部分。光学薄膜应该是这个行业当中的基石,最起码它是一个非常基础的部分。这些基础的部分性能提升和发展,一定会推动我们国家相应产业的发展,也会给我们国家带来产业更好的发展。”


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人工智能赋能光学薄膜技术研究
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王占山 

精密光学工程技术研究所 创始人


报告围绕 “人工智能赋能的光学薄膜精确制备技术” 展开,指出高性能光学薄膜是现代光学系统的基石,但其复杂结构的精确设计与制备面临高精度、高效率需求。传统流程包括优化、制备、检测反演等环节,而人工智能通过生成式网络、强化学习及数据驱动方法,可优化薄膜设计算法(如 FresneIDeep、GPT 方法),捕捉光谱与结构的映射关系。

王老师指出:“未来,在光学薄膜的现代生产流程中,人工智能技术是实现设计-制备的协同优化策略的重要工具。人工智能技术可以为薄膜设计、监控、误差反演等主要流程赋能。”

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薄膜涂层技术助力深紫外技术的发展
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Dr. Kunz Alexander

布勒莱宝光学阿尔策瑙有限公司 全球精密光学销售经理


报告围绕薄膜涂层技术助力深紫外技术的发展展开探讨,Dr. Kunz Alexander表示:“如今,工业和研究机构对紫外光学膜层的要求越来越高。深紫外(DUV)技术作为整个工业领域的推动者,广泛服务于半导体和光学计量行业,能够制造更小、更密集的结构。DUV技术将芯片制造的极限和研究的可能性推进到了193nm波长。”


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全国产大口径离子束设备在微纳光学中的应用
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易洪波

博顿光电科技有限公司 副总经理


报告围绕全国产大口径离子束设备在微纳光学中的应用,提到当前博顿光电在全国产大口径离子束设备于微纳光学领域取得突破。等离子让气体产生离化、再加上电场或磁场作用形成离子束,可用于镀膜、刻蚀及表面处理等。公司通过核心技术升级,开发全新高性能离子源及部件,集成 IAD 沉积、离子束溅射等设备,为增减材、高能注入应用场景。


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原子层沉积(ALD)在光学镀膜领域的应用
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沈璐博士

深圳市原速科技有限公司 高级研发工程师


沈博士在报告中提到:基于化学吸附与表面自限性,通过控制反应周期精准调控纳米级膜层厚度、成分等。对比传统镀膜技术,原子层沉积(ALD)技术在台阶覆盖率、均匀性、厚度控制(纳米级)等方面优势显著。在光学领域,ALD可通过镀膜改变光学特性,应用于超黑膜、装饰膜、超透镜、器件封装等场景,覆盖手机、车载、AR/VR 等产品。


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量子纳米复合材料在先进多层膜设计制造与特性
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Nick Erhart

Process Development Engineer, Cutting Edge Coatings GmbH


报告围绕量子纳米复合材料在先进多层膜设计制造与特性展开。Nick在大会上提到,通过H-materials 测试,在量子纳米层(QNL)堆栈中,TiO₂、Nb₂O₅和 ZrO₂可与 SiO₂结合;其可调光学特性体现在折射率和带隙取决于阱和势垒的大小;QNL 超材料功能可实现先进的多层涂层;波长控制方面,吸收边移位打开了新的设计范围;智能涂层工艺采用新型离子束溅射技术并结合时间/光学控制;此外,该技术还具备快速制造优势,具有运动部件少、涂布周期短的特点。


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硫系玻璃减反射膜技术现状
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季一勤

天津津航技术物理研究所 研究员


报告主要介绍了硫系玻璃减反射膜目前的主要进展和问题。季老师在报告中指出:“硫系玻璃由于自身的优势,取得了广泛的应用。但加工成光学元件后,其可靠性和稳定性需要继续优化和改进。未来希望材料厂家、光学设计、光学加工、镀膜和测试分析等业内学者共同努力,将这系列问题的彻底解决。”


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高功率激光薄膜吸收损耗测试技术及仪器分析
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李斌成

电子科技大学 教授,成都技致光电科技有限公司


报告围绕激光量热及光热吸收测量原理和技术考虑、激光量热与光热吸收测量技术对比、光热吸收测试仪器的使用技巧、激光量热吸收测试仪器的研发四个方面展开。

李教授总结:“测量结果的可重复性是任何测试仪器的最基本要求!原理上激光量热和光热吸收测量技术都可用于光学元件的绝对吸收测量,实际应用上激光量热技术更适用于吸收损耗的绝对测量,光热技术更适用于吸收缺陷分布的成像测量;正确的标定方法是光热吸收测量绝对值有意义的关键,建议采用激光量热吸收测量结果标定光热信号幅值;必要的专业知识、合适的设备选择、合理的参数设置和正确的使用方法是光热吸收测量结果具有可信度的前提。”为薄膜生产提供了宝贵的指导及建议。



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